DIATEST量?jī)x是如何分類的？

日期：2025-04-30 17:40

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摘要：

DIATEST量?jī)x一般按其工作原理或儀器的用途進(jìn)行分類。

（1），按儀器工作原理分類。

機(jī)械式儀器。指用機(jī)械方法實(shí)現(xiàn)原始信號(hào)轉(zhuǎn)換的儀器。如游標(biāo)卡尺，千分尺，百分表，各類機(jī)械式測(cè)微儀，機(jī)械式萬(wàn)能測(cè)齒儀以及各類機(jī)械式檢定器等。這種根據(jù)機(jī)械轉(zhuǎn)換傳動(dòng)原理設(shè)計(jì)的儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，性能穩(wěn)定，使用方便，缺點(diǎn)是精度不高，不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量。

光儀儀器，指用光學(xué)的方法，實(shí)現(xiàn)對(duì)原始信號(hào)轉(zhuǎn)換放大的儀器。根據(jù)儀器中學(xué)系統(tǒng)不同可分為：

A.望遠(yuǎn)系統(tǒng)類，如準(zhǔn)直儀，自準(zhǔn)直儀等。

B.顯微系統(tǒng)類，如工具顯微鏡，測(cè)長(zhǎng)儀，測(cè)長(zhǎng)機(jī)，光學(xué)分度頭等。

C.投影系統(tǒng)類，如投影儀。

D.光干涉源理類，如干涉顯微鏡，**光波干涉儀，立式接觸干涉儀，孔徑干涉儀等。

E.數(shù)顯類，如激光比長(zhǎng)儀，激量塊干涉儀，光柵式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，光柵式光學(xué)分度頭等。

（2）按儀器用途分類。

（3）端度儀器。包括測(cè)微儀，光學(xué)計(jì)，測(cè)長(zhǎng)儀，測(cè)長(zhǎng)機(jī)和接觸式干涉儀。主要用于測(cè)量量塊，量棒端面長(zhǎng)度，球形，圓柱形工件直徑，板形工件厚度，環(huán)規(guī)直徑，內(nèi)外螺紋中徑和螺距等。

線紋儀器，如阿貝線紋比較儀，主要用于測(cè)量刻線之間的距離。

表面粗糙儀器。包括雙管顯微鏡，干涉顯微鏡及電動(dòng)輪廊儀，主要用于表面粗糙度測(cè)量。

平直度儀器。包括平面干涉儀，平值儀，自準(zhǔn)直儀等，主要用于測(cè)量平晶，平板的平面度，各種平尺，導(dǎo)軌的直線度等。

齒輪儀器，包括萬(wàn)能測(cè)齒儀，漸開線齒形檢查儀，單齒儀等，主要用于齒輪各參數(shù)測(cè)量。

通用儀器，這類儀器主要指工具顯微鏡，坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，投影儀等，是通用性強(qiáng)，測(cè)量范圍廣的儀器，主要用于工件多參數(shù)尺寸測(cè)量。

專用儀器，測(cè)量孔徑，絲杠，圓度等多種專用儀器，如孔徑檢查儀絲杠檢查儀，圓度儀等。

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